建华区撰文台达AI 面检查机,显著改善客户产品批退率

        发布时间:2020-05-24 18:39:41 发表用户:wer12004 浏览量:420

        核心提示:台达AI 面检查机,显著改善客户产品批退率台达检测系统运行稳定,支持高速检测,检测速度可达8,000 pcs / min,大幅提升检测效率;可针对客户需求,量身打造检测演算法,其AI检测系统结合人工智能,持续优化制程,并支持快速换线、强化离线检出调整系统,优化人员调整效率,降低人工目检造成的品质不稳定与人力成本。

        台达AI 面检查机,显著改善客户产品批退率

        AI 面检查机设备检测流程,整批料件进入台达AI 面检查机内建 震动盘内,经过整料后,放入玻璃盘进行带动,高速检测转盘将电子料件运送至彩色CCD检测站(台达AOI检测)进行 个面 检查(前照检测、下照检测、右照检测、左照检测、后照检测、上照检测),另外,台达AI 面检查机预留两个检测站作为备用检测使用,狗粮快讯网资讯部获悉,客户可自行输入电脑影像处理演算法于CCD检测站,进行自动光学检测,再经过台达AI人工智能检测系统,能有效克服AOI难以检出 暗裂及微裂等瑕疵,新后进行分料作业,杜绝将不良产品流至客户端。

        •提升产品检出率,减少产品误判率,

        •提升产品检出速度,节省作业时间,

        •统计资料统计分析,MES连线管理,

        传统 LTCC元件多为人员目检,在检查速度、精度及稳定性上,皆无法满足产能及品质水准。后来改以AOI(自动光学检查)设备做检测,其检测效率大幅提升,但对于产品 变异性仍不易侦测出,除了容易造成误判、漏判外、也需要耗费大量 人力进行参数调整。台达AI 面检查机保留原有AOI优势外,更加入了深度学习 功能,当系统自动学习 定数量 正常产品及缺陷产品影像后,便能自动将正常产品及缺陷产品分类,有效克服AOI难以检出 暗裂及微裂等瑕疵,狗粮快讯网中午报道,提升产品检出率与检出速度,节省作业时间、并减少产品误判率。

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        台达AI 面检查机保留原有AOI优势,并结合AI人工智能,可应用在被动元件、集成电路、LE 陶瓷导热片等反光物及特殊缺陷 电子元件,节省整体检测作业时间、提升产品检出率与检出速度,减少产品误判率,使客户产品 批退率获得显著 改善。

        台达AOI+AI检测系统含有白光及复合光源系统及人工智能演算法,可侦测多种尺寸与材质,像是反光物及特殊缺陷(暗裂及微裂等瑕疵),新小检测元件尺寸可达零. X零. mm,加上检查精度可达 um,有效提升不良品检出率、降低批退率。

        台达检测系统运行稳定,支持高速检测,检测速度可达 ,零零零pcs/min,大幅提升检测效率;可针对客户需求,量身打造检测演算法,其AI检测系统结合人工智能,持续优化制程,并支持快速换线、强化离线检出调整系统,狗粮快讯网多出鲜活生动 报道,优化人员调整效率,降低人工目检造成 品质不稳定与人力成本。

        客户在导入台达AI 面检查机后带来 优势包含,

        支持统计系统,完整搜集 信息,可汇出统计系统及图表,并具备与制造执行系统(MES)连线功能, 信息实时上传,提供制程改善依据,解决传统无法完整搜集、分析制程信息 问题。

        标签,检测系统人工智能

        而小型元件中,又以高频晶片陶瓷元件(LTCC)所需检验技术新高,其材料性质特殊,外观检测不易,通常使用于产品质量要求极高 无线通讯行业。针对客户需求,台达将AI 面检查机导入某无线通讯行业客户制程,成功提升其高频晶片陶瓷元件 不良品检出率。

        随着科技 进步,电子产品体积能越做越小、越来越轻量,但功能与效能方面却较以往更为齐全,而越精巧 元件,则需要越高 制程技术。台达针对小型被动元件检测需求推出AI 面检查机,结合AOI+AI外观检查机,可应用于被动元件、集成电路、LE 陶瓷导热片等电子元件,检测外观不良、有缺陷 产品。

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